SPM - CENTER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPY AND RESONANCE SPECTROSCOPY

Послуги Центру

Головним завданням Центру „SPM&RS” є надання науковцям можливості проводити дослідження на приладах сучасного рівня - надвисоковакуумному мікроскопі із сканувальним зондом JSPM-4610 фірми JEOL (Японія) та ЯМР і ЕПР спектрометрах фірми BRUKER, які обслуговуються кваліфікованим персоналом, здатним підтримувати обладнання у високоякісному робочому стані та надавати консультативні послуги.

Центр зондової мікроскопії та резонансної спектроскопії спеціалізується в галузі досліджень фізико-хімічних властивостей поверхні і меж поділу та об'ємних фізичних і хімічних властивостей нанобіоматеріалів та металооксидних наносистем.

На виконання Розпорядження Президії НАН України № 322 від 28.04.2004, яким регламентується розподіл робочого часу створених в системі НАН України Центрів колективного користування приладами (ЦККП) щодо власних потреб базової організації ЦККП, інших центрів НАН України та організацій інших відомств, необхідно подати заявку до ЦККП "Центр SPM&RS" за однією з наступних форм:

Форма заявки для підрозділів ІМФ ім. Г.В. Курдюмова НАН України

Завантажити документ

Форма заявки для організацій НАН України

Завантажити документ

Форма заявки для організацій інших відомств

Завантажити документ

Перелік послуг:

Центр зондової мікроскопії та резонансної спектроскопії надає наступні послуги в проведенні науково-дослідних і діагностичних робіт для широкого класу матеріалів з різних галузей фундаментальної і прикладної науки, включаючи напівпровідникове матеріалознавство, мінералогію і біологію.

1. Дослідження морфології і вимір лінійних розмірів мікрорельєфу поверхні структур методами сканувальної зондової мікроскопії.

2. Дослідження морфології і структури поверхні методами атомово-силової мікроскопії.

3. Вимір складу поверхні методом рентґенівської фотоелектронної спектроскопії.

4. Дослідження атомної будови (близький та далекий порядки), електронної структури та динаміки електрон-ядерної системи (ядерна спінова, магнонна та фононна підсистеми, атомний, молекулярний і фраґментний рух, міжатомові та міжмолекулярні взаємодії) методом ЯМР-спектроскопії.

За інформацією про оформлення заявки звертайтесь за телефоном, що вказаний у контактах.

Вимоги до зразків:

STM – сканувальна тунельна мікроскопія (провідники та напівпровідники)
Стандартні розміри: довжина - 7 мм, ширина - 1 мм, товщина - 0,3 мм Допустимі розміри: довжина - 9 мм, ширина - 7-9 мм, товщина - 0,3-4 мм
AFM – мікроскопія атомових сил (провідники, напівпровідники, діелектрики)
Стандартні розміри: довжина - 7 мм, ширина - 1 мм, товщина - 0,3 мм
XPS - рентґенівська фотоелектронна спектроскопія
Довжина - 1 см, ширина - 1 см, товщина - 5 мм

Порядок подачі заявок:

Заявки подаються на бланку організації-замовника. Відбір пропозицій і регламент розподілу робочого часу проводиться науково-консультаційною радою при ЦККП "Центр SPM&RS" один раз на місяць.

Послуги Центру

Послуги Центру

Форма заявки для підрозділів ІМФ ім. Г.В. Курдюмова НАН України

Форма заявки для організацій НАН України

Форма заявки для організацій інших відомств

Професійні послуги "SPM&RS-Центр"

Перелік послуг:

Вимоги до зразків:

Порядок подачі заявок:

Зв'язатися з нами

Публікації

Посилання

Слідкуйте За Нами