Головним завданням Центру „SPM&RS” є надання науковцям можливості проводити дослідження на приладах сучасного рівня - надвисоковакуумному мікроскопі із сканувальним зондом JSPM-4610 фірми JEOL (Японія) та ЯМР і ЕПР спектрометрах фірми BRUKER, які обслуговуються кваліфікованим персоналом, здатним підтримувати обладнання у високоякісному робочому стані та надавати консультативні послуги.

Центр зондової мікроскопії та резонансної спектроскопії спеціалізується в галузі досліджень фізико-хімічних властивостей поверхні і меж поділу та об'ємних фізичних і хімічних властивостей нанобіоматеріалів та металооксидних наносистем.

Центр забезпечує:
•        проведення досліджень різними методами зондової мікроскопії атомної структури  та морфології поверхні;
•        оперативний контроль атомних поверхонь методами сканувальної тунельної та атомово-силової мікроскопії;
•        хімічний аналіз поверхні методом рентґенівської фотоелектронної спектроскопії;
•        проведення структурних і динамічних досліджень методами ЯМР- та ЕПР-спектроскопії.

ПЕРЕЛІК ПОСЛУГ
Центр зондової мікроскопії та резонансної спектроскопії надає наступні послуги в проведенні науково-дослідних і діагностичних робіт для широкого класу матеріалів з різних галузей фундаментальної і прикладної науки, включаючи напівпровідникове матеріалознавство, мінералогію і біологію.
1.       Дослідження морфології і вимір лінійних розмірів мікрорельєфу поверхні структур методами сканувальної зондової мікроскопії.
2.      Дослідження морфології і структури поверхні методами атомово-силової мікроскопії.
3.      Вимір складу поверхні методом рентґенівської фотоелектронної спектроскопії.
4.      Дослідження атомної будови (близький та далекий порядки), електронної структури та динаміки електрон-ядерної системи (ядерна спінова, магнонна та фононна підсистеми, атомний, молекулярний і фраґментний рух, міжатомові та міжмолекулярні взаємодії) методом ЯМР-спектроскопії.

 За інформацією про оформлення заявки звертайтесь за телефоном, що вказаний у контактах.

Вимоги до розмірів зразків:

STM – сканувальна тунельна мікроскопія (провідники та напівпровідники)
Стандартні розміри: довжина - 7 мм, ширина - 1 мм, товщина - 0,3 мм
Допустимі розміри: довжина - 9 мм, ширина - 7-9 мм, товщина - 0,3-4 мм

AFM – мікроскопія атомових сил (провідники, напівпровідники, діелектрики)
Стандартні розміри: довжина - 7 мм, ширина - 1 мм, товщина - 0,3 мм

XPS - рентґенівська фотоелектронна спектроскопія
Довжина - 1 см, ширина - 1 см, товщина - 5 мм