[Главная] [Контакты] [Сотрудники] [Оборудование] [Галерея] [Публикации] [Услуги]

Оборудование

 

UA 

 

RU 

 

EN 


 

 

© SPM&RS Centre 2015



Сверхвысоковауумный сканирующий зондовый микроскоп JSPM-4610



SPM_Device


Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп (СВВ-СЗМ) JSPM-4610 разработан фирмой JEOL как инструмент, который демонстрирует максимальные возможности для проведения анализа поверхностей. В его усовершенствовании фирма JEOL продемонстрировала все технические возможности, которые были накоплены за длинные годы работы в качестве производителя научного оборудования.











Технические характеристики JSPM-4610




Разрешающая способность

Горизонтальная: 0,14 нм (СТМ), атомная разрешающая способность для АСМ.
Вертикальная: 0,01 нм (СТМ), атомная разрешающая способность для АСМ.

Механическое перемещение

С помощью моторов

Движение по оси Z (функция приближения)

Грубо контролирует расстояние между образцом и верхушкой зонда.

Механизм автоприближения

Встроенный

Движение по оси X и Y (функция смещения образка)

Диапазон перемещения

По оси X и Y: 4 нм (±2 нм)(СТМ)
По оси X и Y: 2 нм (±1 нм)(АСМ)

Индикатор центра позиции

Встроенный

Сканер

Тип

Stack share (STM). Трубка (АСМ)

Диапазон перемещения

По оси X и Y: 0,2 мкм (200 нм), по оси Z: 0,6 мкм (СТМ)
По оси X и Y: 10 мкм, по оси Z: 3 мкм (АСМ)

Изменение направления сканирования

От -180 до + 180°

Скорость сканирования

Шаг сканирования

От 1,7 мс до 10 с/линию (16 шагов)

Диапазон сканирования

Диапазон изменений

От 0 до 200 нм

Функция масштабирования

Имеется

Образец

Количество образцов во время сканирования

Один (Для смены образца используется магнитный манипулятор)

Размер образца

Максимальный: 10 мм ? 10 мм ? 5 мм
Оптимальный: 1 мм ? 7 мм ? 0.3 мм - для держателя с подогревом

Механизм нагрева образца

Метод нагрева

Прямой нагрев благодаря электрическому сопротивлению образца

Температура нагрева

От комнатной температуры до более, чем 1200°C

Зонд

Количество зондов

Один (для замены зонда используется магнитный манипулятор)

Материал

W (вольфрам)

Очистка зонда

Благодаря использованию выскоих значений тока смещения

Дрейф

Системный дрейф

Менее 0,05 нм/с (при комнатной и более высокой температуре)

Детекция сигнала

Режим СТМ (сканирующей туннельной микроскопии)
Режим постоянного/сменного тока

Режим СТС (сканирующей туннельной спектроскопии)

Ток туннелирования

От 30 пА до 1 мкА

Напряжение смещения

Диапазон изменений

От 0 до ±10 В

Строение камеры

Трехкамерная конструкция (3 камеры откачиваются независимо одна от другой)

Камера УВВ-СЗМ

Для установки стола СТМ

Давление в камере УВВ-СЗМ

Менее 3 ? 10-8 Па

Камера обработки образца

Для обработки образца и сохранения зонда и образца

Давление в камере обработки образца

Приблизительно 10-7 Па

Промежуточный шлюз

Для замены зонда и образца

Давление в переходном шлюзе

Приблизительно 10-4 Па

Нагреватель для отжига

Встроенный

Устроства для уменьшения вибрации

Пневматическая подвеска

Подвеска универсального типа

Метод сложения

3-стольный 4-цилиндрический

Компьютерная система контроля (КСК)

Компьютерная сиситема

Совместимая с IBM PC/AT

Система обработки изображений

Объем памяти кадров

512 ? 512 ? 8 бит

АЦ и ЦА конвертеры

Высокоскоростной 16-битный

Дисплей

Цветной монитор с высоким разрешением

Программное обеспечение для контроля

Меню настройки сканирования (задание координат X, Y, Z, скорости сканирования)

Программное обеспечение для обработки изображений

Более 100 типов

 
 
 

Cпектрометр Ядерного Магнитного Резонанса Bruker AVANCE 400

 
 
  NMR  

Многофункциональный спектрометр ядерного магнитного резонанса предназначен для проведения структурных и динамических исследований в наномасштабах в твердом теле, включая как неорганические, так и органические материалы, а также для исследования жидкофазных систем, исследования строения и свойств молекул и молекулярных систем, динамики внутри-межмолекулярных обменных процессов, реакционной способности новых классов органических, элементоорганических соединений и полимеров в растворах.

Спектроскопия:

  • ядерного магнитного резонанса (ядра большинства изотопов химических элементов, диапазон температур 77-2000 К, частотный интервал импульса до 20 МГц)
  • ЯМР релаксационная
  • ядерного квадрупольного резонанса (ядра с J> 1)
 
 

 

Парк оборудования Центра зондовой микроскопии и резонансной спектроскопии состоит из: высоковакуумного зондового микроскопа, ЯМР и ЭПР спектрометров, оптического микроскопа, установки магнетронного напыления, высокоточных аналитических весов, дериватографа, однолучевого спектрофотометра, лиофильной сушки. Данная апаратура разработана и изготовлена фирмами, которые являются признанными мировыми лидерами в области вакуумного и аналитического оборудования и имеет 100% сертификацию соответствия, что является необходимым условием при закупке аналитического оборудования.







[Главная] [Контакты] [Сотрудники] [Оборудование] [Галерея] [Публикации] [Услуги]