[Головна] [Контакти] [Співробітники] [Обладнання] [Галерея] [Публікації] [Послуги]

Обладнання 


 

UA 

 

RU 

 

EN 


 

 

© SPM&RS Centre 2015




Надвисоковакуумний сканувальний зондовий мікроскоп JSPM-4610






SPM_Device




З моменту своєї появи у 1982 році, сканувальний зондовий мікроскоп (СЗМ) впевнено зайняв міцну позицію в якості інструменту дослідження і в наш час став необхідним інструментом для аналізу поверхні. Разом з цим, збільшилася потреба у спостереженні чистої поверхні зразка, використовуючи характеристики СЗМ. Спостереження таких чистих поверхонь потребує постійної витримки середовища, в якому відбувається спостереження, під ультрависоким вакуумом, що дозволяє проводити очистку поверхні зразків.

Надвисоковакуумний сканувальний зондовий мікроскоп (НВВ-СЗМ) розроблено фірмою JEOL як інструмент, який надає максимальні можливості для проведення аналізу поверхонь. У його удосконаленні фірма JEOL продемонструвала всі технічні можливості, яких було накопичено за довгі роки праці у якості виробника наукових інструментів

 











Технічні характеристики JSPM-4610




Роздільна здатність

Горизонтальна: 0.14 нм для СТМ, атомна роздільна здатність для АСМ.
Вертикальна: 0.01 нм для СТМ, атомна роздільна здатність для АСМ.

Механічне переміщення

За допомогою моторів

Рух по осі Z (функція наближення)

Грубо контролює відстань між зразком та верхівкою зонду

Механізм автонаближення

Вбудований

Рух по осі X та Y (функція зміщення зразка)

Діапазон руху

По осі X та Y: 4 нм (±2 нм)(СТМ)
По осі X та Y: 2 нм (±1 нм)(АСМ)

Індикатор центру позиції

Вбудований

Сканер

Тип

Stack share (STM). Tube (AFM)

Діапазон руху

По осі X та Y: 0.2 мкм (200 нм), по осі Z: 0.6 мкм (СТМ)
По осі X та Y: 10 мкм, по осі Z: 3 мкм(АСМ)

Зміна напрямку сканування

Від -180 до + 180°

Швидкість сканування

Крок сканування

Від 1.7 мс до 10 с/лінію (16 кроків)

Діапазон сканування

Діапазон змін

Від 0 до 200 нм

Функція масштабування

Наявна

Зразок

Кількість зразків під час сканування

Один (Для зміни зразків використовується магнітний маніпулятор)

Розміри зразка

Максимальні: 10 мм (ширина) ? 10 мм (довжина) ? 5 мм (товщина)
Оптимальні: 1 мм (ширина) ? 7 мм (довжина) ? 0.3 мм (товщина) - для тримача з нагріванням

Механізм нагрівання зразка

Метод нагрівання

Безпосереднє нагрівання завдяки електричному опору зразка

Температура нагрівання

Від кімнатної температури до понад 1200°C

Зонд

Кількість зондів

Один (Для заміни зонду використовується магнітний маніпулятор)

Матеріал

W (вольфрам)

Очищення зонду

Завдяки застосуванню високих значень струму зміщення

Дрейф

Системний дрейф

не більше 0,05 нм /с (за кімнатної та підвищеної температури)

Детекція сигналу

Режим СТМ
Режим постійного/змінного струму

Режим СТС (Сканувальної тунельної спектроскопії)

Струм тунелювання

Від 30 пА до 1мA

Струм зміщення

Діапазон змін

Від 0 до ±10 В

Будова камери

Трьохкамерна конструкція (3 камери, які викачуються незалежно одна від одної)

Камера УВВ-СЗМ

Для установки стола СТМ тощо

Залишковий тиск у камері УВВ-СЗМ

Не більше 3 ? 10-8 Па

Камера обробки зразка

Для обробки зразка та зберігання зонду та зразка

Залишковий тиск у камері обробки зразка

Прибл. 10-7 Па

Перехідний шлюз

Для заміни зонду та зразка

Залишковий тиск у перехідному шлюзі

Прибл. 10-4 Па

Нагрівач для відпалювання

Вбудований

Пристрої для гасіння вібрації

Пневматична підвіска

Підвіска універсального типу

Метод складання

3-стільний 4-циліндричний

Комп'ютерна система контролю (КСК)

Комп'ютерна система

Сумісна з IBM PC/AT

Система обробки зображень

Розмі пам'яті кадрів

Вбудована 512 ? 512 ? 8 біт

АЦ та ЦА конвертер

Високошвидкісний 16-бітний

Дисплей

Кольоровий монітор з високою роздільною здатністю

Програмне забезпечення для керування

Меню параметрів сканування (задавання координат X, Y, Z, швидкості сканування)

Програмне забезпечення для обробки зображень

Більше 100 типів

 
 
 

Cпектрометр ядерного магнітного резонансу Bruker AVANCE 400

 
 
  NMR  

Багатофункціональний спектрометр ядерного магнітного резонансу призначений для проведення структурних і динамічних досліджень у наномасштабі в твердому тілі, включаючи як неорганічні, так і органічні матеріали, а також для дослідження рідкофазних систем, вивчення будови і властивостей молекул і молекулярних систем, динаміки внутрішньо- та міжмолекулярних обмінних процесів, реакційної здатності нових класів органічних, елементоорганічних сполук і полімерів у розчинах.

Спектроскопія:

  • ядерного магнітного резонансу (ядра більшості ізотопів хімічних елементів, діапазон температур - 77-2000 К, частотний інтервал імпульсу - до 20 мГц)
  • ЯМР релаксаційна
  • ядерного квадрупольного резонансу (ядра з J > 1)

 

 
 

 

Приладовий парк Центру зондової мікроскопії та резонансної спектроскопії складають: високовакуумний зондовий мікроскоп, ЯМР- та ЕПР-спектрометри, оптичний мікроскоп, установка магнетронного напорошення, високоточні аналітичні ваги, дериватограф, однопроменевий спектрофотометр, ліофільна сушка. Дану апаратуру розроблено і виготовлено фірмами, визнаними світовими лідерами в області вакуумного і аналітичного приладобудування; вона має 100% сертифікацію на відповідність, що є необхідною вимогою при закупівлі аналітичного обладнання.




[Головна] [Контакти] [Співробітники] [Обладнання] [Галерея] [Публікації] [Послуги]