[Главная][Контакты] [Сотрудники] [Оборудование] [Галерея][Публикации] [Услуги]

                                                          Услуги

 

UA

 

RU

 

EN

 

 

 

© SPM&RS Centre 2015

 




Главным заданием Центра „SPM&RS” является обеспечение возможности проведения исследований с помощью приборов всех научных и других учреждений Украины и зарубежья.

Центр зондовой микроскопии и резонансной спектроскопии специализируется на проведении исследований физико-химических свойств поверхности и границ раздела и объёмных физических и химических свойств нанобиоматериалов и металоксидных наносистем.

Центр обеспечивает
•        проведение исследований с помощью разных методов зондовой микроскопии атомной структуры и морфологии поверхности;
•        оперативный контроль атомных поверхностей с помощью методов сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии;
•        химический анализ поверхности с помощью метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии;
•        проведение структурных и динамических исследований методами ЯМР и ЭПР спектроскопии.

Парк оборудования  Центра зондовой микроскопии и резонансной спектроскопии состоит из: высоковакуумного зондового микроскопа, ЯМР и ЭПР спектрометров, оптического микроскопа, установки магнетронного напыления, высокоточных аналитических весов, дериватографа, однолучевого спектрофотометра, лиофильной сушки. Данная апаратура розработана и произведена фирмами, которые являются признанными мировыми лидерами в области вакуумного и аналитического приборостроения и имеет 100% сертификацию на соответствие необходимым требованиям.

ПЕРЕЧЕНЬ УСЛУГ
Центр зондовой микроскопии и резонансной спектроскопии оказывает следующие услуги в проведении научно-исследовательских и диагностических работ для широкого класса материалов с разных отраслей фундаментальной и прикладной науки, включая полупроводниковое материаловедение, минералогию и биологию:

1.       Исследование морфологии и измерение линейных размеров особенностей микрорельефа поверхности структур с помощью методов сканирующей зондовой микроскопии.
2.      Исследования морфологии и структуры поверхности с помощью методов атомно-силовой микроскопии.
3.      Определение состава поверхности с помощью метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопиии.
4.      Исследования атомного строения (ближний и дальний порядок), электронной структуры и динамики электронно-ядерной системы (ядерная спиновая, магнонная и фононная подсистемы, атомное, молекулярное и фрагментарное движение, межатомные и межмолекулярные взаимодействия) методом ЯМР спектроскопии.

 За информацией по оформлению заявления следует обращатся по телефону, что указан в контактах.

Требования к размерам образцов:

STM – сканирующая туннельная микроскопия (проводники и полупроводники)
Стандартные размеры: длина - 7 мм, ширина - 1 мм, толщина - 0,3 мм
Допустимые размеры: длина - 9 мм, ширина - 7-9 мм, толщина - 0,3-4 мм

AFM – микроскопия атомных сил (проводники, полупроводники, диэлектрики)
Стандартные размеры: длина - 7 мм, ширина - 1 мм, толщина - 0,3 мм

XPS - рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
Стандартные размеры: длина - 1 мм, ширина - 1 мм, толщина - 5 мм

 

 

 









[Главная][Контакты] [Сотрудники] [Оборудование] [Галерея][Публикации] [Услуги]